国内比较常用的两种非接触测量方法,一种是基于CCD器件接收光信号的测量方法,另一种是激光扫描测量方法。两种方法各有各的优势以及劣势,下面让我们来看看他们的基本工作原理。
第*种测量原理:CCD尺寸测量
CCD尺寸测量系统基本都由CCD像传感器、光学系统、微机数据采集和处理系统组成,我们先来看一下采用CCD测量的基本原理:
线阵CCD平行光法进行非接触测量的基本原理:将线阵CCD置于平行光路,被测物放于CCD前方光路中,射向CCD的光就被物体挡住一部分,因此CCD输出的信号就有一个凹口。显然,凹口的宽度与物体的尺寸有一一对应的关系,我们利用数字电路设计和计算机处理就很容易的得到凹口对应的CCD像元数,从而计算出被测物体的尺寸。但是我们也很容易的发现一个问题:这种测量方法要求CCD光敏区的长度大于被测物体的尺寸,而大尺寸的CCD特别昂贵,所以必须通过其他方法来实现光的接收。
CCD尺寸测量基本原理
显然CCD接收法它具有一些独特的一般机械式、光学式、电磁式测量仪无法比拟的优点,这与CCD本身的自扫描高分辨率高灵敏度结构紧凑位置准确的特性密切相关,其中关键的技术就是光学系统的设计和CCD输出视频信号的采集与处理,但是也存在着很多常见的问题,诸如结构复杂、成本高等缺点。下面让我们来看一下,CCD测量的方法有哪些缺点:
(1)采用CCD接收然后转换成数字信号的方法,测量的精度受限于CCD像元的大小!我们知道CCD像元不管哪个部位接收到光,都会将接收到的光信号转化成电信号,从而制约了CCD测量方法的测量精度。当然我们也可以采用尽量小的CCD像元,使它的测量误差尽量减小
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